場發射掃描電鏡
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產品名稱:
場發射掃描電鏡
產品型號:
SEM5000
產品展商:
REANOW/雷若科技
產品文檔:
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簡單介紹
場發射掃描電鏡先進的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時磁性樣品可適用。
場發射掃描電鏡 的詳細介紹
SEM5000場發射掃描電鏡是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。
先進的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時磁性樣品可適用。光學導航、完善的自動功能、精心設計的人機交互，優化的操作和使用流程，無論經驗是否豐富，都可以快速上手，完成高分辨率拍攝任務。
分辨率
1.0 nm @ 15 kV，SE
1.5 nm @ 1 kV，SE
0.8nm @ 30 kV，STEM
產品特點
02
電磁復合物鏡，減小像差，顯著提高低電壓下的分辨率，而且可觀察磁性樣品
03
高壓隧道技術(SuperTunnel) ，在隧道中的電子能保持高能量，減少了空間電荷效應，低電壓分辨率得到保證
04
電子光路無交叉，有效的降低系統像差，提升分辨能力
05
水冷恒溫物鏡，保證物鏡工作的穩定性、可靠性和可重復性
06
磁偏轉六孔可調光闌，自動切換光闌孔，無需機械調節，實現高分辨率觀察或大束流分析模式快速切換
應用案例
玻璃基底片 /3kV/ETD
催化劑 /5kV/Inlens
大腸桿菌 /3kV/Inlens
氮化硼納米片 /3kV/ETD
三元正極前驅體 /3kV/Inlens
高熵合金粉末 /10kV/BSED
金屬銅粉 /3kV/Inlens
陶瓷截面 /3kV/Inlens
鈷酸鋰 /3kV/Inlens
納米花 /1kV/Inlens
植物切片 /30kV/STEM-BF
植物切片 /30kV/STEM-DF
植物切片 /30kV/STEM-HAADF
勃姆石 /5kV/BSED
鋼鐵夾雜物 /15kV/BSED
鋼鐵夾雜物 /15kV/Inlens
產品參數
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關鍵參數
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分辨率
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1.0?nm @ 15 kV，SE
1.5 nm @ 1.0 kV，SE
0.8 nm @ 30 kV，STEM
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加速電壓
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20 V ～ 30 kV
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放大倍率
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1 ～ 2,500,000 x
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電子槍類型
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肖特基場發射電子槍
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樣品室
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真空系統
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全自動控制
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攝像頭
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雙攝像頭
（光學導航+樣品倉內監控）
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樣品臺行程
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X: 120 mm，Y: 115 mm，Z: 50 mm
T: -10°～ +90°, R: 360°
（* 可選配超大倉體版本）
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探測器和擴展
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標配
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鏡筒內高角度電子探測器
側向低角度電子探測器
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選配
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插入式背散射電子探測器
STEM自動插入式掃描透射探測器
樣品交換倉
高速束閘和電子束曝光
EDS能譜儀
EBSD背散射衍射
EBIC電子束感生電流
CL陰極熒光
高低溫原位拉伸臺
納米機械手
大圖拼接
軌跡球 & 旋鈕控制板
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軟件
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語言
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中文
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操作系統
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Windows
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導航
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光學導航、手勢快捷導航
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自動功能
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自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
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